Characterization of sputtered TiNi shape memory alloy thin films - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Japanese Journal of Applied Physics Année : 1999

Characterization of sputtered TiNi shape memory alloy thin films

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Instrumentations et Détecteurs [physics.ins-det]

Jocelyne Lorgeril  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.in2p3.fr/in2p3-00003942

Soumis le : lundi 7 février 2000-11:18:21

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:18:11

Fichier non déposé

Dates et versions

in2p3-00003942 , version 1 (07-02-2000)

Identifiants

Citer

P. Surbled, C. Clerc, Bruno Le Pioufle, H. Fujita. Characterization of sputtered TiNi shape memory alloy thin films. Japanese Journal of Applied Physics, 1999, 38, pp.L1547-L1549. ⟨10.1143/JJAP.38.L1547⟩. ⟨in2p3-00003942⟩

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