Enhancing accuracy of low-dropout regulator susceptibility extraction with on-chip sensors

Jian-Fei Wu 1 Etienne Sicard 2 Alexandre Boyer 3 Sonia Ben Dhia 3 Jiancheng Li 1 Rongjun Shen 1
1 School of Electronic Science and Engineering
National Key Laboratory for Parallel and Distributed Processing [Changsha]
3 LAAS-ISGE - Équipe Intégration de Systèmes de Gestion de l'Énergie
LAAS - Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes [Toulouse]
Abstract : Presented is a new test method that consists in monitoring on-chip internal voltages during susceptibility tests of integrated circuits. An on-chip sensor was installed at several internal nodes within low dropout regulators to measure the distortion of internal signals induced by the coupling of electromagnetic interference. The comparison between external and internal measurement results shows that on-chip sensor techniques enhance the extraction of circuit susceptibility levels, especially at high frequencies.
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Electronics Letters, IET, 2012, 48 (11), pp.649-650. 〈10.1049/el.2012.0407〉
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Contributeur : Alexandre Boyer <>
Soumis le : lundi 25 juin 2012 - 14:14:07
Dernière modification le : mardi 11 septembre 2018 - 15:19:07
Document(s) archivé(s) le : mercredi 26 septembre 2012 - 02:20:50

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Jian-Fei Wu, Etienne Sicard, Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Jiancheng Li, et al.. Enhancing accuracy of low-dropout regulator susceptibility extraction with on-chip sensors. Electronics Letters, IET, 2012, 48 (11), pp.649-650. 〈10.1049/el.2012.0407〉. 〈hal-00709287〉

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