Orientation and phase mapping in TEM microscopy (EBSD-TEM like) : application to materials science. - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Orientation and phase mapping in TEM microscopy (EBSD-TEM like) : application to materials science.

E.F. Rauch
Science et Ingénierie des Matériaux et Procédés
M. Véron
  • Fonction : Auteur
Science et Ingénierie des Matériaux et Procédés
S. Nibolopoulos
  • Fonction : Auteur
D. Bultreys
  • Fonction : Auteur
NanoMEGAS, Brussels

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Matériaux

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https://hal.science/hal-00693675

Soumis le : mercredi 2 mai 2012-22:12:23

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:13

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00693675 , version 1 (02-05-2012)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00693675 , version 1

Citer

E.F. Rauch, M. Véron, S. Nibolopoulos, D. Bultreys. Orientation and phase mapping in TEM microscopy (EBSD-TEM like) : application to materials science.. XIV International Conference on Electron Microscopy (EM2011), Jun 2011, WISLA, Poland. ⟨hal-00693675⟩

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