Proceedings of 18th European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis - ESREF 2007 (Special issue of Microelectronics Reliability, Vol. 47, Issues 9-11) - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Ouvrages Année : 2007

Proceedings of 18th European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis - ESREF 2007 (Special issue of Microelectronics Reliability, Vol. 47, Issues 9-11)

Nathalie Labat
  • Fonction : Directeur scientifique
  • PersonId : 845366
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Andre Touboul
  • Fonction : Directeur scientifique
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Nathalie Labat  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

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Soumis le : mercredi 15 février 2012-14:44:06

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

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Dates et versions

hal-00670469 , version 1 (15-02-2012)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00670469 , version 1

Citer

Nathalie Labat, Andre Touboul (Dir.). Proceedings of 18th European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis - ESREF 2007 (Special issue of Microelectronics Reliability, Vol. 47, Issues 9-11). Elsevier, pp.530, 2007. ⟨hal-00670469⟩

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