Proceedings of 22nd European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis - ESREF 2011 (Special issue of Microelectronics Reliability, Vol. 51, Issues 9-11) - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Ouvrages Année : 2011

Proceedings of 22nd European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis - ESREF 2011 (Special issue of Microelectronics Reliability, Vol. 51, Issues 9-11)

Nathalie Labat
  • Fonction : Directeur scientifique
  • PersonId : 845366
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
François Marc
  • Fonction : Directeur scientifique
  • PersonId : 16571
  • IdHAL : frmarc
  • IdRef : 158656628
IMS

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Nathalie Labat  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00670461

Soumis le : mercredi 15 février 2012-14:33:16

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00670461 , version 1 (15-02-2012)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00670461 , version 1

Citer

Nathalie Labat, François Marc (Dir.). Proceedings of 22nd European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis - ESREF 2011 (Special issue of Microelectronics Reliability, Vol. 51, Issues 9-11). Elsevier, pp.600, 2011. ⟨hal-00670461⟩

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