Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2011
Olivier Briat : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00641829
Soumis le : mercredi 16 novembre 2011-17:30:38
Dernière modification le : vendredi 9 février 2024-10:37:00
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00641829 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2011.07.013
Citer
Akram Eddahech, Olivier Briat, Hervé Henry, Jean-Yves Delétage, Eric Woirgard, et al.. Ageing monitoring of lithium-ion cell during power cycling tests. Microelectronics Reliability, 2011, 51, pp.1968-1971. ⟨10.1016/j.microrel.2011.07.013⟩. ⟨hal-00641829⟩
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