Communication Dans Un Congrès
Année : 2011
Hélène Fremont : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00639192
Soumis le : mardi 8 novembre 2011-14:51:38
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00639192 , version 1
Citer
Kirsten Weide-Zaage, Lutz Meinshausen, Hélène Fremont. Prediction of Electromigration Induced Void Formation in TSV and SAC Contacts. IEEE Congress on Engineering and Technology (CET), Shanghai 2011, Oct 2011, China. ISBN: 978-1-61284-362-9, p. 376-382. ⟨hal-00639192⟩
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