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Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Off-line analysis of structural features using diffraction patterns acquired with the TEM attachment ASTAR

E.F. Rauch
Science et Ingénierie des Matériaux et Procédés

Domaines

Matériaux

Yannick Champion  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00609352

Soumis le : lundi 18 juillet 2011-19:13:58

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:13

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00609352 , version 1 (18-07-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00609352 , version 1

Citer

E.F. Rauch. Off-line analysis of structural features using diffraction patterns acquired with the TEM attachment ASTAR. Electron Crystallography for the Characterization of Materials, Aug 2013, Kiel, Germany. ⟨hal-00609352⟩

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