Frequency and Time Domain Characterization of Substrate Coupling Effects in 3D Integration Stack - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Frequency and Time Domain Characterization of Substrate Coupling Effects in 3D Integration Stack

E. Eid
  • Fonction : Auteur
T. Lacrevaz
C. Bermond
S. Capraro
  • Fonction : Auteur
Dispositifs et Instrumentation en Optoélectronique et micro-ondes
J. Roullard
  • Fonction : Auteur
B. Fléchet
L. Cadix
  • Fonction : Auteur
A. Farcy
  • Fonction : Auteur
Institut Pprime [UPR 3346]
P. Ancey
  • Fonction : Auteur
STMicroelectronics [Crolles]
F. Calmon
CV
O. Valorge
  • Fonction : Auteur
P. Leduc
  • Fonction : Auteur
Institut de biologie et chimie des protéines [Lyon]

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00604338

Soumis le : mardi 28 juin 2011-16:35:11

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-11:45:29

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00604338 , version 1 (28-06-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00604338 , version 1

Citer

E. Eid, T. Lacrevaz, C. Bermond, S. Capraro, J. Roullard, et al.. Frequency and Time Domain Characterization of Substrate Coupling Effects in 3D Integration Stack. IEEE Int. Electronics Manufacturing Technology Conf.,, Dec 2010, Melaka, Malaysia. ⟨hal-00604338⟩

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