Advances in the pseudo-MOSFET characterization method

I. Ionica , A. El Hajj Diab , Y.H. Bae , X. Mescot , A. Ohata , F. Allibert , S. Cristoloveanu (1)

1 IMEP-LAHC - Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation

Domaines: Autre [cond-mat.other]

I. Ionica, A. El Hajj Diab, Y.H. Bae, X. Mescot, A. Ohata, et al.. Advances in the pseudo-MOSFET characterization method. IEEE Conference Proceedings., 2010, France. pp.45-51. ⟨hal-00604270⟩