Structural and electrical characterizations of nanometer scaled aluminum oxide in metal / insulator / silicon (100) heterostructures - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Global Journal of Physical Chemistry Année : 2011

Structural and electrical characterizations of nanometer scaled aluminum oxide in metal / insulator / silicon (100) heterostructures

N. Rochdi
  • Fonction : Auteur
Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille
Mahfoudh Raïssi
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 958152
S. Vizzini
C. Coudreau
  • Fonction : Auteur
Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille
J.-L. Lazzari
Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille
CV
B. Aufray
  • Fonction : Auteur
Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille
H. Oughaddou
CV
F. Arnaud d'Avitaya
  • Fonction : Auteur
Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille

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Soumis le : vendredi 24 juin 2011-15:18:19

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Dates et versions

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Identifiants

  • HAL Id : hal-00603274 , version 1

Citer

N. Rochdi, Mahfoudh Raïssi, S. Vizzini, C. Coudreau, J.-L. Lazzari, et al.. Structural and electrical characterizations of nanometer scaled aluminum oxide in metal / insulator / silicon (100) heterostructures. Global Journal of Physical Chemistry, 2011, 2 (2), pp.230-235. ⟨hal-00603274⟩

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