Communication Dans Un Congrès
Année : 2011
Collection IEMN : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00603136
Soumis le : vendredi 24 juin 2011-11:18:03
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00603136 , version 1
Citer
F. Berthet, Y. Guhel, H. Galous, B. Boudart, J.L. Trolet, et al.. Caractérisation et analyse des effets de pièges électriques sur la fiabilité de HEMTS AlGaN/GaN. 17èmes Journées Nationales Micro-ondes, JNM 2011, 2011, Brest, France. pp.4C3, 1-4. ⟨hal-00603136⟩
Collections
3
Consultations
0
Téléchargements