Caractérisation d'échantillonneurs optoélectroniques pour applications radiofréquences - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2009

Caractérisation d'échantillonneurs optoélectroniques pour applications radiofréquences

J.-M. Delord
  • Fonction : Auteur
S. Badi
  • Fonction : Auteur
J.-F. Roux
CV
J.-L. Coutaz
Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation
CV
S. Formont
  • Fonction : Auteur
J. Chazelas
  • Fonction : Auteur
THALES Airborne Systems [Elancourt]

Domaines

Optique / photonique

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https://hal.science/hal-00602674

Soumis le : jeudi 23 juin 2011-10:53:17

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:40:35

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00602674 , version 1 (23-06-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00602674 , version 1

Citer

J.-M. Delord, S. Badi, J.-F. Roux, J.-L. Coutaz, S. Formont, et al.. Caractérisation d'échantillonneurs optoélectroniques pour applications radiofréquences. Caractérisation d'échantillonneurs optoélectroniques pour applications radiofréquences, May 2009, Grenoble, France. ⟨hal-00602674⟩

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