High Level Testability Analysis using VHDL Automatic Test Pattern Generation

François Giamarchi 1, * Laurent Capocchi 2 Dominique Federici 2 Paul-Antoine Bisgambiglia 2
* Auteur correspondant
1 TIC
SPE - Sciences pour l'environnement
Type de document :
Communication dans un congrès
14th Mediterranean Electrotechnical Conference (MELECON08), May 2008, France. pp.210-215, 2008
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00588332
Contributeur : Laurent Capocchi <>
Soumis le : vendredi 22 avril 2011 - 21:59:24
Dernière modification le : lundi 21 mars 2016 - 17:49:18

Identifiants

  • HAL Id : hal-00588332, version 1

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Citation

François Giamarchi, Laurent Capocchi, Dominique Federici, Paul-Antoine Bisgambiglia. High Level Testability Analysis using VHDL Automatic Test Pattern Generation. 14th Mediterranean Electrotechnical Conference (MELECON08), May 2008, France. pp.210-215, 2008. 〈hal-00588332〉

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