Communication Dans Un Congrès
Année : 2008
Laurent Capocchi : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00588332
Soumis le : vendredi 22 avril 2011-21:59:24
Dernière modification le : lundi 18 mars 2024-14:33:14
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00588332 , version 1
Citer
François Giamarchi, Laurent Capocchi, Dominique Federici, Paul-Antoine Bisgambiglia. High Level Testability Analysis using VHDL Automatic Test Pattern Generation. 14th Mediterranean Electrotechnical Conference (MELECON08), May 2008, France. pp.210-215. ⟨hal-00588332⟩
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