High-Level Automatic Test Generation for VHDL Descriptions

François Giamarchi 1, * Laurent Capocchi 1 Dominique Federici 1 Paul-Antoine Bisgambiglia 1
* Auteur correspondant
1 TIC
SPE - Sciences pour l'environnement
Type de document :
Communication dans un congrès
2008 World Congress in Computer Science,Computer Engineering, and Applied Computing (WORLDCOMP08), Jul 2008, Las-Vegas, United States. pp.6, 2008
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00588330
Contributeur : Laurent Capocchi <>
Soumis le : vendredi 22 avril 2011 - 21:55:49
Dernière modification le : lundi 21 mars 2016 - 17:48:48

Identifiants

  • HAL Id : hal-00588330, version 1

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Citation

François Giamarchi, Laurent Capocchi, Dominique Federici, Paul-Antoine Bisgambiglia. High-Level Automatic Test Generation for VHDL Descriptions. 2008 World Congress in Computer Science,Computer Engineering, and Applied Computing (WORLDCOMP08), Jul 2008, Las-Vegas, United States. pp.6, 2008. 〈hal-00588330〉

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