Nouvelle préparation d'échantillon pour l'analyse de défaillance de technologie Cu/low-k encapsulée en boitier plastique - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Nouvelle préparation d'échantillon pour l'analyse de défaillance de technologie Cu/low-k encapsulée en boitier plastique

A. Aubert
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 837538
L. Dantas de Morais
  • Fonction : Auteur
J.P. Rebrassé
  • Fonction : Auteur

Domaines

Electronique
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00585609 , version 1 (13-04-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00585609 , version 1

Citer

A. Aubert, L. Dantas de Morais, J.P. Rebrassé, Hélène Null Fremont, Nathalie Labat. Nouvelle préparation d'échantillon pour l'analyse de défaillance de technologie Cu/low-k encapsulée en boitier plastique. Atelier de l'ANADEF, Jun 2010, Port d'albret, France. pp.1. ⟨hal-00585609⟩
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