Communication Dans Un Congrès
Année : 2009
Collection IEMN : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00575396
Soumis le : jeudi 10 mars 2011-10:48:51
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00575396 , version 1
Citer
D. Deresmes, J.P. Nys, Maxime Berthe. La plate-forme nanocaractérisation et microscopie en champ proche de l'IEMN. Forum des Microscopies à Sonde Locale, 2009, Hardelot, France. ⟨hal-00575396⟩
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