Vers une nouvelle génération de sonde de microscopie à force atomique à base de micro et nano-systèmes électromécaniques - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2009
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00575271 , version 1 (10-03-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00575271 , version 1

Citer

Bernard Legrand, Emmanuelle Algre, Lionel Buchaillot, Marc Faucher, Benjamin Walter. Vers une nouvelle génération de sonde de microscopie à force atomique à base de micro et nano-systèmes électromécaniques. 4èmes Journées Nationales en Nanosciences et Nanotechnologies, J3N 2009, 2009, Toulouse, France. ⟨hal-00575271⟩
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