Chapitre D'ouvrage
Année : 2010
Léo Gerville-Réache : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00573795
Soumis le : vendredi 4 mars 2011-16:31:43
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-03:09:30
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00573795 , version 1
Citer
Léo Gerville-Réache, Vincent Couallier. An approach to system reliability demonstration based to accelerated test results on components. Advances in degradation modeling, Springer, pp.311-319, 2010. ⟨hal-00573795⟩
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