Communication Dans Un Congrès
Année : 2010
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https://hal.science/hal-00568951
Soumis le : jeudi 24 février 2011-08:39:25
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Citer
T. Sadi, Jean-Luc Thobel, F. Dessenne. Microscopic simulation of electron transport and self-heating effects in InAs nanowire MISFETs. 15th International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices, SISPAD 2010, 2010, Italy. pp.107-110, ⟨10.1109/SISPAD.2010.5604558⟩. ⟨hal-00568951⟩
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