AFM tip characterization by Kelvin probe force microscopy

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New Journal of Physics, Institute of Physics: Open Access Journals, 2010, 12, pp.093024
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Contributeur : Hal Cinam <>
Soumis le : mercredi 16 février 2011 - 09:53:54
Dernière modification le : jeudi 18 janvier 2018 - 01:48:03

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  • HAL Id : hal-00566367, version 1

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C. Barth, T. Hymninen, M. Bieletzki, C.R. Henry, A.S. Foster, et al.. AFM tip characterization by Kelvin probe force microscopy. New Journal of Physics, Institute of Physics: Open Access Journals, 2010, 12, pp.093024. 〈hal-00566367〉

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