Confined VLS growth and structural characterization of silicon nanoribbons

Aurélie Lecestre; Emmanuel Dubois; A. Villaret; T. Skotnicki; P. Coronel; G. Patriarche; C. Maurice

doi:10.1016/j.mee.2009.11.053

Article Dans Une Revue Microelectronic Engineering Année : 2010

Confined VLS growth and structural characterization of silicon nanoribbons

, (1) , , , , ,

1

Aurélie Lecestre

Fonction : Auteur
PersonId : 753470
IdHAL : aurelie-lecestre
ORCID : 0000-0003-2251-1226

Emmanuel Dubois

Fonction : Auteur
PersonId : 738944
IdHAL : emmanuel-dubois-iemn
ORCID : 0000-0002-0347-010X
IdRef : 134290291

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520

CV

A. Villaret

Fonction : Auteur

T. Skotnicki

Fonction : Auteur

P. Coronel

Fonction : Auteur

G. Patriarche

Fonction : Auteur
PersonId : 749659
IdHAL : gilles-patriarche
ORCID : 0000-0002-3917-2470
IdRef : 085221872

C. Maurice

Fonction : Auteur

Collection IEMN : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00549560

Soumis le : mercredi 22 décembre 2010-11:03:49

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Dates et versions

hal-00549560 , version 1 (22-12-2010)

Identifiants

HAL Id : hal-00549560 , version 1
DOI : 10.1016/j.mee.2009.11.053

Citer

Aurélie Lecestre, Emmanuel Dubois, A. Villaret, T. Skotnicki, P. Coronel, et al.. Confined VLS growth and structural characterization of silicon nanoribbons. Microelectronic Engineering, 2010, 87, pp.1522-1526. ⟨10.1016/j.mee.2009.11.053⟩. ⟨hal-00549560⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS UNIV-VALENCIENNES IEMN UNIV-LILLE

26 Consultations

0 Téléchargements

Confined VLS growth and structural characterization of silicon nanoribbons

Dates et versions

Identifiants

Citer

Exporter

Collections

Altmetric

Partager