Characterization of ytterbium silicide formed in ultra high vacuum - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Physics: Conference Series Année : 2010

Characterization of ytterbium silicide formed in ultra high vacuum

A. Laszcz
  • Fonction : Auteur
J. Ratajczak
  • Fonction : Auteur
A. Czerwinski
  • Fonction : Auteur
J. Katcki
  • Fonction : Auteur
V. Srot
  • Fonction : Auteur
F. Phillipp
  • Fonction : Auteur
P.A. van Aken
  • Fonction : Auteur
Dmitri Yarekha
N. Reckinger
  • Fonction : Auteur
G. Larrieu
  • Fonction : Auteur
Emmanuel Dubois
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
CV

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https://hal.science/hal-00549559

Soumis le : mercredi 22 décembre 2010-11:02:57

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

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Dates et versions

hal-00549559 , version 1 (22-12-2010)

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Citer

A. Laszcz, J. Ratajczak, A. Czerwinski, J. Katcki, V. Srot, et al.. Characterization of ytterbium silicide formed in ultra high vacuum. Journal of Physics: Conference Series, 2010, 209, pp.012056-1-4. ⟨10.1088/1742-6596/209/1/012056⟩. ⟨hal-00549559⟩

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