Différentes méthodes de localisation de défauts basées sur les dernières composantes principales - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2002

Différentes méthodes de localisation de défauts basées sur les dernières composantes principales

Gilles Mourot
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 842667
José Ragot

Résumé

Dans ce papier nous étudions deux approches de localisation de défauts, basée sur l'analyse en composantes principales (ACP). Un indice de détection calculé à partir des dernières composantes principales est utilisé pour la détection de d´efauts. Une fois le défaut détecté, le principe de reconstruction des variables est utilisé pour localiser la variable en défaut. Cependant cette technique de localisation présente certaines limitations (liées au degré de redondance). L'autre alternative de localisation est basée sur le calcul des contributions des variables à l'indice de détection. Cependant cette méthode est très sensible aux points de fonctionnement, car le calcul des contributions dépend directement des amplitudes des variables. On montre dans ce papier que cette méthode ne peut ^tre utilisée pour la localisation. Un exemple d'illustration sera présenté.
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00529093 , version 1 (24-10-2010)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00529093 , version 1

Citer

Mohamed-Faouzi Harkat, Gilles Mourot, José Ragot. Différentes méthodes de localisation de défauts basées sur les dernières composantes principales. Conférence Internationale Francophone d'Automatique, CIFA 2002, Jul 2002, Nantes, France. pp.229-234. ⟨hal-00529093⟩
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