Etude de l'effet du boîtier sur l'immunité en champ proche des circuits intégrés - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2009

Etude de l'effet du boîtier sur l'immunité en champ proche des circuits intégrés

Ali Alaeldine
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 938058
ESEO-EMC
Thomas Ordas
Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Richard Perdriau
ESEO-EMC
Philippe Maurine
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
CV
Mohamed Ramdani
ESEO-EMC
Lionel Torres
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
M'Hamed Drissi
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 839429
Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique

Yolande Sambin  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00522766

Soumis le : vendredi 1 octobre 2010-16:22:23

Dernière modification le : mercredi 23 août 2023-15:35:51

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00522766 , version 1 (01-10-2010)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00522766 , version 1

Citer

Ali Alaeldine, Thomas Ordas, Richard Perdriau, Philippe Maurine, Mohamed Ramdani, et al.. Etude de l'effet du boîtier sur l'immunité en champ proche des circuits intégrés. Telecom 2009 & 6èmes JFMMA, Mar 2009, Agadir, Maroc. 4 p. ⟨hal-00522766⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

UNIV-NANTES UNIV-RENNES1 CNRS INSA-RENNES IETR SUP_IETR IETR-INSA SYSMIC LIRMM ESEO-TECH ESEO-EMC UR1-MATH-STIC UR1-UFR-ISTIC ESEO-RF-EMC LIRMM_MIC MIC IETR-WAVES MIPS UNIV-MONTPELLIER UNIV-RENNES INSA-GROUPE UR1-MATH-NUM IETR-EWAVES NANTES-UNIVERSITE
191 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More