Scanning thermal microscopy and Raman analysis of bulk fused silica exposed to low-energy femtosecond laser pulses - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Optics Express Année : 2008

Scanning thermal microscopy and Raman analysis of bulk fused silica exposed to low-energy femtosecond laser pulses

Y. Bellouard
  • Fonction : Auteur
E. Barthel
A.A. Said
  • Fonction : Auteur
M. Dugan
  • Fonction : Auteur
P. Bado
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00505004 , version 1 (22-07-2010)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00505004 , version 1

Citer

Y. Bellouard, E. Barthel, A.A. Said, M. Dugan, P. Bado. Scanning thermal microscopy and Raman analysis of bulk fused silica exposed to low-energy femtosecond laser pulses. Optics Express, 2008, 24 (16), pp.19520-19534. ⟨hal-00505004⟩
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