Communication Dans Un Congrès
Année : 2005
Marielle Clot : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00461617
Soumis le : vendredi 5 mars 2010-10:32:27
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-18:22:33
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00461617 , version 1
Citer
T. Chevolleau, D. Eon, Maxime Darnon, L. Vallier, O. Joubert. Etching Mechanisms of Low-k Materials with the Solid FirstTM ILD Process in Fluorocarbon Based Plasma. AVS 52nd international symposium, 2005, United States. ⟨hal-00461617⟩
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