Random roughness standards: needs and applications

C. Zerrouki (1) , P. Pinot (1) , F. de Fornel (2) , N. Fourati (1) , H. Nasrallah (2) , Zaccaria Silvestri (1) , S. Monnoy , Myriam Zerrad (3) , Carole Deumie (3) , Claude Amra (3) , S. Ducourtieux (4)

1 LCM - Laboratoire commun de métrologie LNE-CNAM
2 ICB - Laboratoire Interdisciplinaire Carnot de Bourgogne
3 FRESNEL - Institut FRESNEL
4 ESPCI Paris - Ecole Superieure de Physique et de Chimie Industrielles de la Ville de Paris

Domaines: Optique [physics.optics]

C. Zerrouki, P. Pinot, F. de Fornel, N. Fourati, H. Nasrallah, et al.. Random roughness standards: needs and applications. JNTE08, 2008, Toulouse, France. ⟨hal-00459426⟩