Characterization of grating structures by Mueller polarimetry in presence of strong depolarization due to finite spot size and spectral resolution - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Optics Communications Année : 2009

Characterization of grating structures by Mueller polarimetry in presence of strong depolarization due to finite spot size and spectral resolution

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Optique [physics.optics]

Enrique Garcia Caurel  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00453274

Soumis le : jeudi 4 février 2010-11:36:12

Dernière modification le : mercredi 6 décembre 2023-18:18:33

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00453274 , version 1 (04-02-2010)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00453274 , version 1

Citer

Martin Foldyna, Enric Garcia-Caurel, Antonello de Martino, Razvigor Ossikovski, C. Licitra. Characterization of grating structures by Mueller polarimetry in presence of strong depolarization due to finite spot size and spectral resolution. Optics Communications, 2009, 282, pp.735. ⟨hal-00453274⟩

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