Article Dans Une Revue
Microscopy and Microanalysis
Année : 2008
Sylvie Leclerc : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00449620
Soumis le : vendredi 22 janvier 2010-11:23:12
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:28:37
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00449620 , version 1
Citer
Raphaël Passas, Pierre Vernhes. Optical metrology and scanning electron microscopy of paper damage by writing. Microscopy and Microanalysis, 2008, 111, pp.S19-S21. ⟨hal-00449620⟩
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