Towards a 'Safe' Use of Design Patterns to Improve OO Software Testability
Résumé
no abstract
Communication Dans Un Congrès
Année : 2001
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https://hal.science/hal-00448044
Soumis le : lundi 18 janvier 2010-11:37:53
Dernière modification le : vendredi 5 janvier 2024-03:23:24
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00448044 , version 1
Citer
Benoît Baudry, Yves Le Traon, Gerson Sunyé, Jean-Marc Jézéquel. Towards a 'Safe' Use of Design Patterns to Improve OO Software Testability. 12th International Symposium on Software Reliability Engineering ISSRE 2001, 2001, Hong Kong SAR China. pp.324-331. ⟨hal-00448044⟩
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