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Communication Dans Un Congrès Année : 2009

Peut-on considérer des mesures de diffraction comme référence " ultime " pour tester des modèles et des codes de simulation ?

Jean-Michel Geffrin
Rodolphe Vaillon
Christelle Eyraud
Pierre Sabouroux
Olivier Merchiers
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00437592 , version 1 (01-12-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00437592 , version 1

Citer

Jean-Michel Geffrin, Rodolphe Vaillon, Christelle Eyraud, Pierre Sabouroux, Olivier Merchiers. Peut-on considérer des mesures de diffraction comme référence " ultime " pour tester des modèles et des codes de simulation ?. Session plénière du GdR Ondes, Nov 2009, Paris, France. ⟨hal-00437592⟩
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