Article Dans Une Revue
Journal of Applied Physics
Année : 2006
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https://hal.science/hal-00437321
Soumis le : lundi 30 novembre 2009-12:17:46
Dernière modification le : mercredi 20 mars 2024-16:20:04
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00437321 , version 1
Citer
Laurent Pichon, Abdelmalek Boukhenoufa, Christophe Cordier, Bogdan Cretu. Determination of interface state distribution in polysilicon thin film transistors from low frequency -noise measurements: application to analysis of electrical properties. Journal of Applied Physics, 2006, 100 (5), pp.54504-54509. ⟨hal-00437321⟩
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