Méthodologie d'analyse physique pour l'évaluation de la fiabilité de Diodes Electroluminescentes InGaN/GaN

Document type :
Conference papers
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00402734
Contributor : Isabelle Bord <>
Submitted on : Wednesday, July 8, 2009 - 10:36:14 AM
Last modification on : Thursday, January 11, 2018 - 6:21:06 AM

Identifiers

  • HAL Id : hal-00402734, version 1

Citation

Raphaël Baillot, Yannick Deshayes, Yves Ousten, Laurent Bechou. Méthodologie d'analyse physique pour l'évaluation de la fiabilité de Diodes Electroluminescentes InGaN/GaN. JNRDM, May 2009, Lyon, France. p96. ⟨hal-00402734⟩

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