Silicon phototransistor reliability assessment and new selection strategies for space applications - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2008
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00402616 , version 1 (07-07-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00402616 , version 1

Citer

Piero Spezzigu, Laurent Bechou, Yannick Deshayes, Yves Ousten, Gianandrea Quadri, et al.. Silicon phototransistor reliability assessment and new selection strategies for space applications. SPIE EUROPHOTONICS CONFERENCE, Apr 2008, Strasbourg, France. pp. 70030O-1/70030O9. ⟨hal-00402616⟩
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