Failure analysis enhancement by evaluating the thermal laser stimulation impact on analog ICs

Type de document :
Communication dans un congrès
International Symposium on the Physical and Failure Analysis on Integrated Circuits (IPFA), 2008, Suzhou, China. pp.1-6, 2008
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401695
Contributeur : Frédéric Darracq <>
Soumis le : vendredi 3 juillet 2009 - 19:13:08
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:21:06

Identifiants

  • HAL Id : hal-00401695, version 1

Citation

Magdalena Sienkiewicz, Philippe Perdu, Abdellatif Firiti, Olivier Crepel, Dean Lewis. Failure analysis enhancement by evaluating the thermal laser stimulation impact on analog ICs. International Symposium on the Physical and Failure Analysis on Integrated Circuits (IPFA), 2008, Suzhou, China. pp.1-6, 2008. 〈hal-00401695〉

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