In-depth resolution for LBIC technique by two-photon absorption

Type de document :
Communication dans un congrès
Beam Injection Assessment of Microstructurs in Semiconductors (BIAMS), 2006, Saint Petersbourg, Russia. pp.56-58, 2006
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401693
Contributeur : Frédéric Darracq <>
Soumis le : vendredi 3 juillet 2009 - 19:01:06
Dernière modification le : jeudi 4 octobre 2018 - 11:14:07

Identifiants

  • HAL Id : hal-00401693, version 1

Citation

Dong Yun Wan, Vincent Pouget, Alexandre Douin, Patrice Jaulent, Dean Lewis, et al.. In-depth resolution for LBIC technique by two-photon absorption. Beam Injection Assessment of Microstructurs in Semiconductors (BIAMS), 2006, Saint Petersbourg, Russia. pp.56-58, 2006. 〈hal-00401693〉

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