Failure Analysis enhancement by evaluating the Photoelectric Laser Stimulation impact on mixed-mode ICs

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Article dans une revue
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2008, 48, pp.1529-1532
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Contributeur : Frédéric Darracq <>
Soumis le : jeudi 2 juillet 2009 - 18:53:42
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:21:06

Identifiants

  • HAL Id : hal-00401312, version 1

Citation

Magdalena Sienkiewicz, Philippe Perdu, Abdellatif Firiti, Kevin Sanchez, Olivier Crepel, et al.. Failure Analysis enhancement by evaluating the Photoelectric Laser Stimulation impact on mixed-mode ICs. Microelectronics Reliability, Elsevier, 2008, 48, pp.1529-1532. 〈hal-00401312〉

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