Light Emission To time resolved emission for IC debug and failure analysis

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Microelectronics Reliability, Elsevier, 2005, 5, pp.1476-1481
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Contributeur : Frédéric Darracq <>
Soumis le : jeudi 2 juillet 2009 - 18:14:37
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:21:06

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  • HAL Id : hal-00401289, version 1

Citation

Mustapha Remmach, A. Pigozzi, Romain Desplats, Philippe Perdu, Dean Lewis, et al.. Light Emission To time resolved emission for IC debug and failure analysis. Microelectronics Reliability, Elsevier, 2005, 5, pp.1476-1481. 〈hal-00401289〉

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