Communication Dans Un Congrès
Année : 2009
sebastien fregonese : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00399917
Soumis le : lundi 29 juin 2009-14:10:54
Dernière modification le : mercredi 15 novembre 2023-14:53:48
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00399917 , version 1
Citer
M. Al-Sa'Di, S. Fregonese, C. Maneux, T. Zimmer. Investigation of Electrical BJT Performance through Extrinsic Stress Layer Using TCAD Modeling. Semiconductor Conference Dresden 2009, Apr 2009, Dresden, Germany. ⟨hal-00399917⟩
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