Using the SEEM software for SET testing and analysis

Type de document :
Chapitre d'ouvrage
Radiation Effects on Embedded Systems, Springer, pp.259-268, 2007
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Contributeur : Frédéric Darracq <>
Soumis le : mardi 23 juin 2009 - 14:47:58
Dernière modification le : jeudi 4 octobre 2018 - 11:14:07

Identifiants

  • HAL Id : hal-00397867, version 1

Citation

Vincent Pouget, Pascal Fouillat, Dean Lewis. Using the SEEM software for SET testing and analysis. Radiation Effects on Embedded Systems, Springer, pp.259-268, 2007. 〈hal-00397867〉

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