Highlights of Laser Testing Capabilities Regarding the Understanding of SEE in SRAM-based FPGA

A. Bocquillon (1) , G. Foucard (2) , F. Miller (1) , Nadine Buard (1) , Régis Leveugle (2) , C. Daniel (1) , S. Rakers , T. Carriere (1) , Vincent Pouget (3) , Raoul Velazco (2)

1 EADS, Corporate Research Center
2 TIMA - Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés
3 IMS - Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Domaines: Electronique

A. Bocquillon, G. Foucard, F. Miller, Nadine Buard, Régis Leveugle, et al.. Highlights of Laser Testing Capabilities Regarding the Understanding of SEE in SRAM-based FPGA. 9th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), Sep 2007, Deauville, France. pp.36-42. ⟨hal-00397854⟩