Electrical Modeling for Laser Testing with Different Pulse Durations

Type de document :
Communication dans un congrès
11th IEEE International On Line Testing Symposium, Jul 2005, Saint Raphael, France. pp.9-13, 2005
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https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397739
Contributeur : Frédéric Darracq <>
Soumis le : mardi 23 juin 2009 - 10:31:24
Dernière modification le : jeudi 4 octobre 2018 - 11:14:07

Identifiants

  • HAL Id : hal-00397739, version 1

Citation

Alexandre Douin, Vincent Pouget, Dean Lewis, Pascal Fouillat, Phillipe Perdu. Electrical Modeling for Laser Testing with Different Pulse Durations. 11th IEEE International On Line Testing Symposium, Jul 2005, Saint Raphael, France. pp.9-13, 2005. 〈hal-00397739〉

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