Communication Dans Un Congrès
Année : 2007
Marielle Clot : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00396816
Soumis le : jeudi 18 juin 2009-21:55:44
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:01:09
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00396816 , version 1
Citer
C. Sire, S. Blonkowski, M. Gordon, T. Baron. Statistics of electrical breakdown in high-K materials from millimeter to nanometer length scales: macroscopic testing vs. conductive-AFM. MRS Fall Meeting, Nov 2007, Boston, United States. ⟨hal-00396816⟩
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