Low-frequency relaxation phenomena in a-LiIO3: the nature and role of defects - Archive ouverte HAL

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Article Dans Une Revue Journal of Solid State Chemistry Année : 2002

Low-frequency relaxation phenomena in a-LiIO3: the nature and role of defects

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Yannick Mugnier

Fonction : Auteur
PersonId : 176296
IdHAL : yannick-mugnier
ORCID : 0000-0002-1923-6553
IdRef : 069833907

Laboratoire SYstèmes et Matériaux pour la MEcatronique

Christine Galez

Fonction : Auteur
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IdHAL : christine-galez
ORCID : 0000-0002-3219-1070
IdRef : 149344198

Laboratoire SYstèmes et Matériaux pour la MEcatronique

Christine Opagiste

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PersonId : 20934
IdHAL : christine-opagiste
ORCID : 0000-0002-7294-4428
IdRef : 253122090

Jacques Bouillot

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Laboratoire SYstèmes et Matériaux pour la MEcatronique

Domaines

Matériaux et structures en mécanique [physics.class-ph] Matériaux et structures en mécanique [physics.class-ph]

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https://hal.science/hal-00372682

Soumis le : jeudi 2 avril 2009-08:50:29

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:04:38

Dates et versions

hal-00372682 , version 1 (02-04-2009)

Identifiants

HAL Id : hal-00372682 , version 1

Citer

Yannick Mugnier, Christine Galez, Christine Opagiste, Jacques Bouillot. Low-frequency relaxation phenomena in a-LiIO3: the nature and role of defects. Journal of Solid State Chemistry, 2002, 168 (nc), pp. 76-84. ⟨hal-00372682⟩

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