Communication Dans Un Congrès
Année : 2008
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https://hal.science/hal-00369420
Soumis le : jeudi 19 mars 2009-16:33:47
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:51
Citer
Rami Mousa, Dominique Planson, Hervé Morel, Bruno Allard, Christophe Raynaud. Modeling and high temperature characterization of SiC-JFET. IEEE PESC, Jun 2008, Rhodes, Greece. pp.3111 - 3117, ⟨10.1109/PESC.2008.4592430⟩. ⟨hal-00369420⟩
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