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Communication Dans Un Congrès Année : 2007

Characterization of MOS varactors with Large Signal Network Analyser (LSNA) in CMOS 65nm bulk and SOI technologies

Y. Morandini
  • Fonction : Auteur
D. Ducateau
  • Fonction : Auteur
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
J.F. Larchanche
  • Fonction : Auteur
Christophe Gaquière
D. Gloria
  • Fonction : Auteur

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https://hal.science/hal-00367696

Soumis le : jeudi 12 mars 2009-10:39:36

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00367696 , version 1 (12-03-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00367696 , version 1

Citer

Y. Morandini, D. Ducateau, J.F. Larchanche, Christophe Gaquière, D. Gloria. Characterization of MOS varactors with Large Signal Network Analyser (LSNA) in CMOS 65nm bulk and SOI technologies. Proceedings of the 69th ARFTG Microwave Measurement Conference, 2007, Honolulu, HI, United States. ⟨hal-00367696⟩

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