Communication Dans Un Congrès
Année : 2007
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https://hal.science/hal-00367386
Soumis le : mercredi 11 mars 2009-10:36:47
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00367386 , version 1
Citer
S. Wang, David Troadec, D. Deresmes, R. Liang, Caroline Soyer, et al.. PZT films etched by focused Ga+ ion beam : study of ion damage and post annealing treatment effects. Proceedings of the 19th International Symposium on Integrated Ferroelectrics, ISIF-19, 2007, Bordeaux, France. ⟨hal-00367386⟩
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