EWOD displacement on patterned superhydrophobic silicon nanowires surface : lab-on-chip for direct mass spectrometry analysis - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2008

EWOD displacement on patterned superhydrophobic silicon nanowires surface : lab-on-chip for direct mass spectrometry analysis

F. Lapierre
  • Fonction : Auteur
B. Verbeke
  • Fonction : Auteur
N. Verplanck
  • Fonction : Auteur
V. Thomy
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
CV
G. Piret
  • Fonction : Auteur
Yannick Coffinier
Rabah Boukherroub

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https://hal.science/hal-00360423

Soumis le : mercredi 11 février 2009-10:55:36

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00360423 , version 1 (11-02-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00360423 , version 1

Citer

F. Lapierre, B. Verbeke, N. Verplanck, V. Thomy, G. Piret, et al.. EWOD displacement on patterned superhydrophobic silicon nanowires surface : lab-on-chip for direct mass spectrometry analysis. 1st European Conference on Microfluidics, MicroFlu'08, 2008, Italy. CDROM, µFLU08-135, 6 p. ⟨hal-00360423⟩

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