Evaluation of SRAMs reliability for space electronics using ultrashort laser pulses

Abstract : This paper proposes a complete method dedicated to the evaluation of SRAMs sensitivity to single event upsets using ultrashort laser pulses.
Type de document :
Article dans une revue
Journal of Integrated Circuits and Systems, Brazilian Microelectronics Society, 2006, 1 (3), pp.11 -16
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Contributeur : Frédéric Darracq <>
Soumis le : vendredi 6 février 2009 - 17:18:33
Dernière modification le : jeudi 4 octobre 2018 - 11:14:07

Identifiants

  • HAL Id : hal-00359396, version 1

Citation

Frédéric Darracq, Herve Lapuyade, Pascal Fouillat, Vincent Pouget, Dean Lewis, et al.. Evaluation of SRAMs reliability for space electronics using ultrashort laser pulses. Journal of Integrated Circuits and Systems, Brazilian Microelectronics Society, 2006, 1 (3), pp.11 -16. 〈hal-00359396〉

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